德國蔡司FIB雙束掃描電鏡Crossbeam 350-華普通用 參考價(jià)：面議
蔡司FIB雙束掃描電鏡Crossbeam 350結(jié)合了高分辨率場發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束（FIB）的優(yōu)異加工能力深入實施。
德國蔡司FIB雙束掃描電鏡Crossbeam 550-華普通用 參考價(jià)：面議
蔡司FIB雙束掃描電鏡Crossbeam 550結(jié)合了高分辨率場發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）的出色成像和分析性能能運用，以及新一代聚焦離子束（FIB）的優(yōu)異加工能力全面革新。
德國蔡司多束掃描電子顯微鏡MultiSEM系列-華普通用 參考價(jià)：面議
德國蔡司 MultiSEM 研究合作計(jì)劃速度非凡的掃描電子顯微鏡(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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